© 2019 Element No

Bowman Analytics, Inc. (США)

Наш многолетний опыт в отрасли рентгенофлуоресцентного анализа дал понять, что требуется совершенно новое решение для контроля качества покрытий. Мы общались с ведущими специалистами в отрасли, мы знаем применения, мы понимаем проблемы и конкурентную среду.

Именно поэтому мы представили систему BOWMAN  - высокопроизводительный рентгенофлуоресцентный анализатор для определения толщины покрытия, элементного анализа и измерения размеров покрытия.

Мы также понимаем, что большинство Заказчиков ожидает высокую стоимость оборудования. Наши многолетние разработки, опыт и разработка собственного программного обеспечения позволили нам предложить экономически эффективное решение, которое не только оптимизирует технологию рентгенофлуоресцентного анализа для контроля качества покрытий, но и выводит его на новый уровень.

 

Мы предлагаем высокоточную систему измерения толщины покрытия, элементного анализ в одном компактном приборе, который в половину легче примерно в половину дешевле, чем другие рентгенофлуоресцентные толщиномеры.

 

Наша цель - упростить вашу работу, создав стабильную, надежную, удобную и экономичную систему рентгенофлуоресцентную систему с высокой эффективностью, которой вы можете доверять при каждом измерении.

Мы предлагаем анализаторы с Si-PIN и SDD детекторами, с системами направления луча с помощью коллиматоров и капиллярной оптикой для непревзойденного разрешения, микроточечного быстрого анализа.

Рентгенофлуоресцентные толщиномеры Bowman - это прецизионные настольные приборы, для неразрушающего измерения толщины покрытия, измерения элементного состава, измерения растворов.

G серия - ювелирная промышленность и бижутерия, общий анализ материалов в лаборатории 

B серия- неразрушающий анализ толщины и состава многослойных покрытий, элементный анализ материалов, в том числе на образцах небольшого размера (крепеж, проволока и т.д. )

P серия- Электроника, полупроводниковая и общая металлическая отделка, плюс золото и ювелирные изделия- широкий круг задач на одном приборе

O серия- Капиллярная оптика для очень тонких покрытий, микрофокусный анализ,  быстрый анализ с высочайшим разрешением (по сравнению с приборами, оборудованными коллиматорами)- ENIG, ENEPIG и химическое осаждение Ni, толщина и содержание Р

М серия- Совмещает преимущества капиллярной оптики и программного обеспечения для построения 3D модели покрытия.  Печатные платы, проводники, контакты, тонкие провода, выводы - широчайший спектр задач