Рентгеновский толщиномер Bowman с  фокусирующей оптикой О серия

Рентгеновская оптика - будущее уже сегодня -

уникальное решение для высокоточного анализа

 Представляем Вам уникальный высокопроизводительный рентгеновский толщиномер с фокусирующей оптикой (поликапиллярная оптика), которая фокусирует рентгеновский луч до пятна размеров 15 мкм без потери интенсивности. Это позволяет проводить неразрушающей анализ толщины и состава многослойных покрытий, тонких пленок, элементный анализ материалов в различных областях промышленности, в том числе, где требуется анализ на образцах микро размерах. 
  • Неразрушающий контроль толщины многослойных покрытий на любых основаниях

      - Исследование покрытий ENIG, ENEPIG, химически осажденного никеля, в том                числе для контроля содержания P в покрытии

       - Исследование тонких пленок

       - Измерение толщины тонких проводящих и/или разделительных слоев печатных          плат

      - Исследование покрытий компонентов, в том числе на образцах микронного                    размера 

      - Измерение толщины любых металлических покрытий (хром, никель, медь,                      серебро, олово) на различных основаниях, в том числе пластик, стекло

  • Анализ химического состава

      - Анализ покрытий в сфере производства электронных изделий и                                       полупроводниковых приборах

      - Анализ покрытий твердых материалов (CrN, TiN, TiCN )

      - Определение состава металла до покрытия

      - Химический анализ припоев 

      - Анализ химического состава других материалов в лаборатории с низким                        пределом обнаружения

  • Анализ растворов

      - контроль содержания металлов в гальванических ваннах 

Описание

Bowman с гордостью представляет рентгеновский анализатор последнего поколения с использованием поликапиллярной рентгеновской фокусирующей оптики. Фокусировка рентгеновского луча до пятка размером 15 мкм без потери мощности и SDD детектор с площадью входного окна 70 мм2 объединились в одном приборе для непревзойденной скорости измерения, производительности и точность анализа.  

Анализаторы серии О специально разработаны для неразрушающего контроля толщины тонких пленок, анализа химического состава с низким пределом обнаружения на небольших образцах, тонкой проволоки или при точечном анализе покрытия.  Построение 3D модели покрытия- новый уровень контроля качества.

• Поликапиллярная оптика увеличивает в более чем 100 раз плотность рентгеновского луча по сравнению с коллиматором на таком же расстоянии от источника
• Это обеспечивает наилучшую точность при кратчайшем времени анализа с небольшим размером измерительного пятна

АНАЛИЗ ТОНКИХ ПЛЕНОК И СВЕРХМАЛЫХ ОБРАЗЦОВ

•  Измерение на небольших образцах с невероятной точностью и минимальной погрешностью
• Плотность флюоресцентного потока до 5 раз больше по сравнению с коллиматором
• Большое входное окно SDD детектора
• Предназначен для анализа ENIG, ENEPIG и химически осажденный покрытий

• Измерение содержания P с покрытии

ПРЕИМУЩЕСТВА КАПИЛЛЯРНОЙ ОПТИКИ

Пример применения
Технические характеристики

Диапазон определяемых элементов                                       от Al до U

Трубка                                                                                           50 Вт (50 кэВ, 1 мА), микрофокусная, с W анодом

Детектор                                                                                       SDD детектор, разрешение 190 кэВ или выше (Si-PIN опционально)

Количество анализируемых слоев                                          5 слоев, до 10 элементов в каждом слое

Анализ химического состава                                                    до 25 элементов одновременно   

Фильтры/коллиматоры                                                              4 фильтра/ 4 коллиматора, моторизированная смена

Фокальное расстояние                                                              Мульти-фокус, лазерная фокусировка

Перемещение по оси Z                                                               130 мм

Видео камера                                                                               1/4" CMOS- 1280x720 Писк разрешение

Увеличение                                                                                   20х (50х- опционально)

Моторизированный измерительный столик                          375х325 мм, перемещение 150х125 мм

Увеличенный измерительный столик                                     625х625 мм, перемещение 250х250 мм

Точность позиционирования                                                     0,01 мм

Размеры измерительной камеры                                             Высота 140 мм, Ширина 310 мм, Глубина 335 мм

Габаритные размеры                                                                  Высота 450 мм, Ширина 450 мм, Глубина 600 мм

Вес                                                                                                  52-70 кг

Узнайте, какой анализатор подойдет для решения ваших задач. Заполните прилагаемый опросный лист и вышлите нам info@elementno.com

 

© 2019 Element No